Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
мікроскопія, микроскопия
Підтеми:
Документи:
- Деревна тирса плюс силільовані стирольні композити з низьким водопоглинанням (англ. мова) [Текст] / M. Omari, B. Witold, A. Jimsher [et al.] // Chemistry & Chemical Technology. – 2022. – Vol. 16, № 3. – С. 377-386. – DOI: https://doi.org/10.23939/chcht16.03.377.
- Особенности методики трехпроходных измерений в магнитной силовой микроскопии [Текст] / А. М. Алексеев, В. Н. Комков, С. Ю. Краснобородько [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2010. – № 6. – С. 63-66.
- Физико-химическая модель начальной стадии формирования гетероструктур селенид галлия - арсенид галлия, полученных методом гетеровалентного замещения мышьяка селеном [Текст] / В. Ф. Антюшин, А. В. Буданов, Е. А. Татохин, Я. А. Болдырева // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2002. – № 2. – 29-32.
- Термолазерный терапевтический комплекс «Велми» для лечения генитальной папилломавирусной инфекции [Текст] / С. В. Белов, Ю. К. Данилейко, В. В. Ежов [и др.] // Медицинская техника. – 2013. – № 6. – С. 15-18.
- Исследование углеродного наноматериала методами атомно-силовой и электронной микроскопии [Текст] / И. И. Бобринецкий, В. Н. Кукин, В. К. Неволин, М. М. Симунин // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2007. – № 4. – 3-6.
- Финоменологическое описание процесса диспергирования на капли тонких пленок кремния толщиной 8-60 нм на инертной поверхности Al2O3 [Текст] / А. А. Буздуган, С. А. Гаврилов, Д. Г. Громов [et al.] // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2007. – № 2. – 21-28.
- Васильева, Л. А. Электронная микроскопия в металловедении цветных металлов [Текст] : Справочник / Л. А. Васильева, Л. М. Малашенко, Р. Л. Тофпенец. – Мн. : Наука и техника, 1989. – 208с : ил. – Библиогр.: с.205-207. – ISBN 5-343-00089-4.
- Исследование особенностей процесса локального окисления пленок титана на основе сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / С. А. Гаврилов, С. В. Лемешко, В. М. Рощин [и др.] // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2000. – № 3. – 27-33.
- Побудова моделей-класифікаторів за результатами багатовимірної поляризаційної мікроскопії в технології судово-медичного інтелектуального моніторингу хвороб серця [Текст] / С. В. Голуб, Ю. О. Ушенко, О. Я. Ванчуляк, М. В. Талах // Математичні машини і системи. – 2018. – № 3. – С. 48-59.
- Наноструктурные особенности морфологии поверхности а-C:H-пленок, осажденных из углеводородной плазмы [Текст] / А. Г. Гонтарь, А. М. Куцай, С. И. Хандожко [et al.] // Сверхтвердые материалы. – 2000. – № 6. – 35-39.
- Дослідження магнітогісторезисних явищ у гранулярних плівках Co-Ag [Текст] / Ю. І. Горобець, А. Ф. Кравець, В. Н. Захарченко, О. М. Бруква // Наукові вісті НТУУ КПІ. – 2001. – № 6. – 115-118.
- Грицьків, З. Д. Багаторакурсний метод відображення біомедичних об'єктів у сканувальній оптичній мікроскопії [Текст] / З. Д. Грицьків, А. Д. Педан, В. І. Шклярський // Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. – 2007. – 1(13). – 122-127.
- Диденко, О. З. Низкоразмерные квантовые системы ZnO/MgO с контролируемым размером наночастиц оксида цинка [Текст] / О. З. Диденко, П. Е. Стрижак, Г. Р. Космамбетова // Теоретическая и экспериментальная химия. – 2007. – 43, № 3. – 183-188.
- Дюков, В. Г. Электронная микроскопия локальных потенциалов [Текст] / В. Г. Дюков, С. А. Непийко, Н. Н. Седов ; АН УССР. Ин-т физики. – К. : Наук.думка, 1991. – 198с : ил. – ISBN 5-12-002339-8.
- Терморегулируемая криостатная система для исследования образцов в оптическом микроскопе в диапазоне температур 8-350 К [Текст] / И. П. Жарков, А. Г. Чмуль, В. В. Сафронов, И. Р. Сильдос // Приборы и техника эксперимента. – 2006. – № 2. – 164-166.
- Карупу, В. Я. Электронная микроскопия [Текст] / В. Я. Карупу. – К. : Вища школа, 1984. – 208с.
- Влияние условий приготовления наноразмерного диоксида циркония, стабилизированного оксидом иттрия, на его каталитические свойства в реакции окисления СО [Текст] / Г. Р. Космамбетова, П. Е. Стрижак, Э. М. Мороз [et al.] // Теоретическая и экспериментальная химия. – 2007. – 43, № 2. – 96-101.
- Кретушев, А. В. Сверхразрешение на сингулярных участках фазовых изображений [Текст] / А. В. Кретушев, В. П. Тычинский // Квантовая электроника. – 2002. – 32, № 1. – 66-70.
- Улучшение системы позиционирования в сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / Т. Ю. Крупкина, Е. С. Пьянков, А. А. Алексеев, Д. А. Измайлов // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2010. – № 6. – С. 78-80.
- Апертурный зонд на основе волоконного резонатора Фабри-Перо для систем ближнепольной оптической микроскопии [Текст] / Ю. Н. Кульчин, О. Б. Витрик, А. В. Безвербный [и др.] // Квантовая электроника. – 2011. – Т. 41, № 3. – С. 249-252.
- Волоконно-оптическая флуоресцентная микроскопия для исследования биологических объектов [Текст] / А. Н. Морозов, А. А. Лазуткин, И. В. Турчин [и др.] // Квантовая электроника. – 2010. – Т. 40, № 9. – С. 842-846.
- Мюллер, Э. В. Полевая ионная микроскопия, полевая ионизация и полевое испарение [Текст] / Э. В. Мюллер, Т. Т. Цонг ; Пер. с англ. О.Л. Голубева, В.Г. Павлова; Под ред. В.Н. Шредника. – М. : Наука, 1980. – 220 с : ил.
- Неволин, В. К. Зондовая нанотехнология: достижения [Текст] / В. К. Неволин // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2000. – № 4-5. – 103-106.
- Папаян, Г. В. Высокочувствительная измерительная телевизионно-компьютерная система "ТВИСТ" для флуоресцентной эндоскопии и микроскопии [Текст] / Г. В. Папаян // Оптический журнал. – 2000. – 67, № 1. – 70-77.
- Петруша, И. А. Механизмы первичной рекристаллизации при спекании материалов на основе порошков cBN каталитического синтеза [Текст] / И. А. Петруша, Г. С. Олейник, Н. В. Даниленко // Сверхтвердые материалы. – 2000. – № 6. – 39-49.
- Сверхбыстрое термическое плавление твердых тел под воздействием фемтосекундных лазерных импульсов [Текст] / Б. Ретфельд, В. В. Темнов, К. Соколовски-Тинтен [et al.] // Оптический журнал. – 2004. – 71, № 6. – 18-23.
- Рехвиашвили, С. Ш. К теории модуляционной сканирующей атомно-силовой микроскопии [Текст] / С. Ш. Рехвиашвили, Д. С. Гаев // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2001. – № 2. – 101-106.
- Сергеева, Е. А. Влияние рассеяния на предельную глубину визуализации в методе двухфотонной флуоресцентной микроскопии [Текст] / Е. А. Сергеева // Квантовая электроника. – 2010. – Т. 40, № 5. – С. 411-417.
- Сергеева, Е. А. Формирование сигнала двухфотонной флуоресцентной микроскопии в условиях сильного рассеяния: теоретическое и численное моделирование [Текст] / Е. А. Сергеева, А. Р. Катичев, М. Ю. Кириллин // Квантовая электроника. – 2010. – Т. 40, № 12. – С. 1053-1061.
- Скорюкова, Я. Г. Структурні моделі сегментації напівтонових зображень за ознакою зв'язності [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 01.05.02 : захищена 07.10.2005 / Яніна Германівна Скорюкова ; ВНТУ. – Вінниця, 2005. – 201 : іл. – Бібліогр.: с.136-147.
- Спенс, Дж. Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения [Текст] / Дж. Спенс ; пер. Пер. с англ. – М. : Наука, 1986. – 320с : ил. – Библиогр.: с. 313-320.
- Исследование дефектов поверхности монокристаллов алмаза растрово-электронной микроскопией [Текст] / В. Н. Ткач, Г. Д. Ильницкая, Г. Ф. Невструев, Е. Ф. Кузьменко // Сверхтвердые материалы. – 2000. – № 6. – 26-34.
- Ближнеполевая СВЧ-микроскопия нанометровых слоев металла на диэлектрических подложках [Текст] / Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль, А. В. Абрамов [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2011. – № 5. – С. 83-90.
- Федоров, И. А. Сканирующая силовая микроскопия с универсальным кантилевером [Текст] / И. А. Федоров, В. М. Рощин, В. И. Шевяков // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2002. – № 3. – 61-67.
- Энгель, Л. Растовая электронная микроскопия. Разрушение [Текст] : Справочник / Л. Энгель, Г. Клингеле ; пер. с нем. – М. : Металлургия, 1986. – 232с.
- ДСТУ Б А.1.1-9-94 Метод електронної мікроскопії матеріалів [Текст] : Терміни та визначення. – 29 с.
- Металлография титановых сплавов [Текст] / Ред. коллегия: Н.Ф. Аношкин, Г.А. Бочвар. – М. : Металлургия, 1980. – 464 с. – (Титановые сплавы).
- Практическая растровая электронная микроскопия [Текст] / Под ред. Дж. Гоулдстейна; Пер. с англ. под ред. В.И. ПетроваГоулдстейн Дж. – М. : Мир, 1978. – 656 с.
- Практические методы в эллектронной микроскопии [Текст] / Под ред. Одри М. Глоэра; пер. с англ. В.Н. Верцнера. – Л. : Машиностроение, 1980. – 375 с.
|