Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Сергеева, Е. А.
    Влияние рассеяния на предельную глубину визуализации в методе двухфотонной флуоресцентной микроскопии [Текст] / Е. А. Сергеева
    // Квантовая электроника. – 2010. – Т. 40, № 5. – С. 411-417.

  


            


Є складовою частиною документа Квантовая электроника [Текст] = Quantum Electronics. – 2010. – Т. 40, № 5.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'