Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
микроскопия растровая
Підтеми:
Документи:
- Боргардт, Н. И. Анализ структуры СБИС с применением метода фокусированного ионного пучка, электронной и оптической микроскопии [Текст] / Н. И. Боргардт, Н. В. Алексеев, Р. Л. Волков // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2011. – № 5. – С. 91-98.
- Максимов, К. С. Закономерности дефокусированных изображений в растровой электронной микроскопии и измерения размеров в нанообласти [Текст] / К. С. Максимов // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2009. – № 2. – С. 69-73.
- Орелович, О. Л. Приемы препарирования образцов трековых мембран для растровой электронной микроскопии [Текст] / О. Л. Орелович, П. Ю. Апель // Приборы и техника эксперимента. – 2001. – № 1. – 133-136.
- Определение удельного электрического сопротивления режущей двухслойной пластины на основе cBN с использованием цифровых методов растровой электронной микроскопии [Текст] / С. В. Ткач, Э. Ф. Кузьменко, В. Н. Ткач [et al.] // Сверхтвердые материалы. – 2004. – № 2. – 28-34.
- Практическая растровая электронная микроскопия [Текст] / Под ред. Дж. Гоулдстейна; Пер. с англ. под ред. В.И. ПетроваГоулдстейн Дж. – М. : Мир, 1978. – 656 с.
|