• Класифікатори
• мікроскопія, микроскопия

мікроскопія атомно-силова, микроскопия атомно-силовая

Документи:

• Исследование режимов формирования оксидных наноразмерных структур арсенида галлия методом локального анодного окисления [Текст] / О. А. Агеев, В. А. Смирнов, М. С. Солодовник [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 2. – С. 43-50.
• Наногетероструктуры с повышенной подвижностью электронов, полученные методом МЛЭ [Текст] / А. Н. Алексеев, С. И. Петров, В. К. Неволин [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2011. – № 5. – С. 69-74.
• Создание литографических масок с помощью сканирующего зондового микроскопа [Текст] / Д. А. Бизяев, А. А. Бухараев, С. А. Зиганшина [и др.] // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 6. – С. 437-447.
• Благов, Е. В. Моделирование силовых поверхностей в атомно-силовой микроскопии в контактной моде на постоянной высоте [Текст] / Е. В. Благов // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2001. – № 1. – 92-99.
• Исследование углеродного наноматериала методами атомно-силовой и электронной микроскопии [Текст] / И. И. Бобринецкий, В. Н. Кукин, В. К. Неволин, М. М. Симунин // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2007. – № 4. – 3-6.
• Атомно-силовая микроскопия биологических наночастиц на воздухе [Текст] / И. И. Бобринецкий, Р. А. Мороз, В. В. Трошин, Е. Ю. Чаплыгин // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 2. – С. 36-41.
• Особенности интеграции графенов в технологические процессы микроэлектроники [Текст] / И. И. Бобринецький, И. А. Комаров, К. К. Лаврентьев [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 3. – С. 33-42.
• Бондаренко, М. О. Перспективи використання методу атомно-силової мікроскопії для дослідження стану та фізико-механічних характеристик поверхонь виробів прецизійного машинобудування [Текст] / М. О. Бондаренко, Ю. Ю. Бондаренко, В. С. Антонюк // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". Серія : Оптимізація виробничих процесів і технічний контроль у машинобудуванні та приладобудуванні : збірник наукових праць / МОН України. – Львів : Вид-во Львівської політехніки, 2015. – № 822. – С. 72-77.
• Модификация поверхности позитивного фоторезиста при ионной имплантации [Текст] / Д. И. Бринкевич, С. Д. Бринкевич, М. Г. Лукашевич [и др.] // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 6. – С. 448-452.
• Быстров, С. Г. применение селективных химических реакций в атомной силовой микроскопии для получения информации о локальном физико-химическом строении поверхности полимерных материалов [Текст] / С. Г. Быстров // Приборы и техника эксперимента. – 2009. – № 2. – С. 153-158.
• Исследование сложнопрофильных микрообьектов методами атомной силовой микроскопии [Текст] / А. И. Галушков, И. В. Годовицын, А. Н. Сауров [et al.] // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2007. – № 1. – 83-84.
• Герасименко, Н. Н. Фрактальный анализ поверхности слоя CoSi2, полученного ионным синтезом [Текст] / Н. Н. Герасименко, М. Н. Павлюченко, К. К. Джаманбалин // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2002. – № 6. – 17-24.
• Годжаєв, Е. М. Фізико-хімічний аналіз і термоелектричні властивості сплавів системи (SnSe) (ErSe) [Текст] / Е. М. Годжаєв, Дж.І. Гусейнов // Термоелектрика. – 2014. – № 3. – С. 42-48.
• Катеринчук, В. Н. Электрические и топологические свойства пленок оксидов, термически выращенных на подложках InSe [Текст] / В. Н. Катеринчук, В. Д. Ковалюк, В. В. Хомяк // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2010. – № 5-6. – С. 51-53.
• Козадаев, К. В. Установка для атмосферного лазерного напыления наноструктур благородных металлов [Текст] / К. В. Козадаев // Приборы и техника эксперимента. – 2016. – № 6. – С. 95-100.
• Исследование морфологии поверхности карбида кремния 6H-SiC после высокотемпературного травления в восстановительной среде [Текст] / В. А. Кондрашов, Р. Ю. Розанов, В. К. Неволин, К. А. Царик // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2014. – № 5. – С. 24-32.
• Фазо-инверсионные градиентно-пористые пленки на основе полиамидоимидов из дихлорангидрида дикарбоксифенилфталимида и диаминов различного химического строения [Текст] / С. В. Кононова, Е. В. Кручинина, К. А. Ромашкова [и др.] // Журнал общей химии. – 2010. – 80, № 10. – С. 1666-1675.
• Алмазные монокристаллические зонды для атомно-силовой микроскопии [Текст] / П. Г. Копылов, Б. А. Логинов, Р. Р. Исмагилов, А. Н. Образцов // Приборы и техника эксперимента. – 2010. – № 4. – С. 156-162.
• Особенности функционализации поверхности однослойного и мультислойного графена при окислении под действием ультрафиолетового облучения [Текст] / Д. Д. Левин, И. И. Бобринецкий, А. В. Емельянов [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2015. – Т. 20, № 3. – С. 259-267.
• Атомно-силовая микроскопия клеток фибробластов, культивированных на коллаген-хитозановом каркасе [Текст] / Р. А. Морозов, А. В. Никитина, А. В. Ромашкин [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2016. – Т. 21, № 3. – С. 230-234.
• Новак, А. В. Формирование пленок поликристаллического кремния с полусферическими зернами для конденсаторных структур с повышенной емкостью [Текст] / А. В. Новак // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 6. – С. 10-16.
• Реутов, В. Ф. Методика подготовки образцов из металлических нанопроволочек для электронной и атомно-силовой микроскопии [Текст] / В. Ф. Реутов, М. Ф. Микляев, Б. В. Мчедлишвили // Приборы и техника эксперимента. – 2007. – № 3. – 144-147.
• Рудь, Б. М. Определение размеров наноструктурных элементов в гранулированных композиционных пленках проводник-диэлектрик: расчет и атомная силовая микроскопия [Текст] / Б. М. Рудь, В. Е. Шелудько // Порошковая металлургия. – 2015. – № 1-2. – С. 31-40.
• Исследование процессов самоорганизации квантовых точек сульфида свинца [Текст] / С. А. Тарасов, О. А. Александрова, А. И. Максимов [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 3. – С. 28-32.
• Атомно-силовая микроскопия и фотолюминесцентный анализ пористых материалов на основе оксидов металлов [Текст] / С. А. Тарасов, И. Е. Грачева, К. Г. Гареев [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 2. – С. 21-26.
• Тихомиров, А. А. Методика проведения измерений в полуконтактной моде атомно-силовой микроскопии [Текст] / А. А. Тихомиров, С. Ю. Краснобородько, В. И. Шевяков // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 4. – С. 94-95.
• Федоров, Р. Г. Применение атомно-силовой микроскопии при электроосаждении металлов в магнитном поле [Текст] / Р. Г. Федоров, А. В. Хлынов // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2009. – № 6. – С. 81-83.
• Шумилов, Ф. А. Иммобилизация единичных частиц детонационных наноалмазов в пленках Ленгмюра-Блоджетт на основе октадециламина [Текст] / Ф. А. Шумилов, В. С. Левицкий // Надтверді матеріали. – 2019. – № 6. – С. 55-65.