Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
мікроскопія зондова, микроскопия зондовая
Документи:
- Антоненко, С. В. Получение зондов с углеродными нанотрубками [Текст] / С. В. Антоненко, О. С. Малиновская // Приборы и техника эксперимента. – 2010. – № 6. – С. 139-142.
- Особенности проведения измерений в сканирующей электропроводящей микроскопии [Текст] / А. Н. Белов, С. А. Гаврилов, М. Ю. Назаркин [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2011. – № 3. – С 75-81.
- Белов, А. Н. Элементы микро- и наносистем в сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / А. Н. Белов, В. М. Рощин, В. И. Шевяков // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2005. – № 4-5. – 120-124.
- Быков, В. А. Нанодиагностика и зондовая микроскопия в исследованиях новых материалов [Текст] / В. А. Быков // Нанотехнологии: наука и производство. – 2011. – № 4. – С. 7-10.
- Быков, В. А. Уменьшение влияния температурного дрейфа в сканирующих зондовых микроскопах [Текст] / В. А. Быков, Е. В. Кузнецов, Е. С. Пьянков // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2010. – № 5. – С. 58-63.
- Голик, Р. Г. Исследование структурных превращений и флуктуационных явлений в наноразмерных пленках никеля вблизи температуры плавления [Текст] / Р. Г. Голик, Д. Г. Громов, Г. П. Жигальский // Радиотехника и электроника. – 2012. – Т. 57, № 6. – С. 691-695.
- Ефимов, А. Е. Сканирующий зондовый нанотомограф: особенности технических решений для анализа биомедицинских материалов при низких температурах [Текст] / А. Е. Ефимов, О. И. Агапова, И. И. Агапов // Медицинская техника. – 2015. – № 3. – С. 6-8.
- Ковшов, С. Б. Точність вимірювання довжини при застосуванні методів зондової мікроскопії [Текст] / С. Б. Ковшов, В. С. Купко, І. В. Лукін // Український метрологічний журнал. – 2010. – № 1. – С. 41-45.
- Исследование распределения электрического потенциала на поверхности микроэлектронных структур методами сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / Г. А. Максимов, Д. О. Филатов, А. В. Круглов [et al.] // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2003. – № 1. – 84-92.
|
