| |
Герасименко, Н. Н.
Фрактальный анализ поверхности слоя CoSi2, полученного ионным синтезом [Текст] / Н. Н. Герасименко, М. Н. Павлюченко, К. К. Джаманбалин
// Изв.ВУЗов.Электроника. – 2002. – № 6. – 17-24.
С помощью фрактального анализа исследованы упорядоченные и неупорядоченные структуры поверхности CoSi2 |
