Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
пластина полупроводниковая
Документи:
- Абрамов, Г. В. Выбор конструктивных и функциональных параметров пневмовихревой центрифуги для механической обработки полупроводниковых пластин [Текст] / Г. В. Абрамов, О. М. Гребенкин, Г. В. Попов // Изв.ВУЗов.Машиностроение. – 2002. – № 8. – 67-77.
- Абрамов, Г. В. Определение рациональных параметров устройств термообработки полупроводниковых пластин на несущей газовой прослойке [Текст] / Г. В. Абрамов, В. Б. Коваленко, Г. В. Попов // Изв.ВУЗов.Машиностроение. – 2002. – № 7. – 60-67.
- Абрамов, Г. В. Исследование точности ориентации полупроводникровых пластин по базовому срезу в пневмовихревой центрифуге [Текст] / Г. В. Абрамов, Л. И. Назина, Г. В. Попов // Изв.ВУЗов.Машиностроение. – 2002. – № 9. – 43-48.
- Автофокусировка в установках автоматизированного контроля дефектов топологического рисунка фотошаблонов и полупроводниковых пластин [Текст] / С. Аваков, А. Безлюдов, Н. Гайков [и др.] // Электронные компоненты. – 2015. – № 10. – С. 125-128.
- Айвазян, Г. Е. Эффективность геттерирования структурных деффектов полупроводниковых пластин слоем пористого кремния [Текст] / Г. Е. Айвазян, А. М. Скворцов // Изв.ВУЗов.Приборостроение. – 2002. – 45, № 7. – 63-65.
- Антонов, В. В. Электродинамические характеристики волновода с пластиной полупроводника при температурно-электрической неустойчивости [Текст] / В. В. Антонов, А. А. Димитрюк // Радиотехника. XXI век. – 2014. – № 10. – С. 14-18.
- Добровольский, Ю. Г. Использование эффекта Кирлиан для контроля качества полупроводниковых пластин [Текст] / Ю. Г. Добровольский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 1999. – № 5-6. – 22-24.
- Иващук, А. В. Тепловые режимы формирования омических контактов к арсениду галлия [Текст] / А. В. Иващук // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2000. – № 5-6. – 43-45.
- Изюмов, М. О. Электростатический прижим с температурной стабилизацией полупроводниковых пластин при плазменной обработке [Текст] / М. О. Изюмов // Приборы и техника эксперимента. – 2009. – № 6. – С. 131-132.
- Кузьо, М. Н. Однородные вычислительные среды [Текст] / М. Н. Кузьо, М. Н. Русын, В. И. Шмойлов // Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. – 2001. – № 2. – 19-37.
- Модернизация установки фотонного отжига полупроводниковых пластин "Оникс" [Текст] / Г. В. Савицкий, А. Ю. Бончик, И. И. Ижнин [et al.] // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2002. – № 6. – 45-47.
- Тогатов, В. В. Прибор для регистрации переходных характеристик быстродействующих диодных струтур [Текст] / В. В. Тогатов, П. А. Гнатюк // Приборы и техника эксперимента. – 2005. – № 1. – С. 81-85.
- Шахмаева, А. Р. Метод удаления кристаллитов с поверхности кремниевой пластины [Текст] / А. Р. Шахмаева, Б. А. Шангерева, Ш. Д. Алиев // Изв.ВУЗов.Приборостроение. – 2004. – № 7. – 63-65.
- Шмойлов, В. И. Пульсирующие информационные решетки с матричной коммутацией [Текст] / В. И. Шмойлов, Б. П. Русын, М. Н. Кузьо // Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. – 2003. – 1-2(5-6). – 55-73.
|