Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
частица ядерная одиночная
Документи:
- Боруздина, А. Б. Влияние топологического размещения ячеек в микросхемах памяти на кратность сбоев от ТЗЧ [Текст] / А. Б. Боруздина, Н. Г. Григорьев, А. В. Уланова // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 88-93.
- Методика регистрации многократных сбоев в микросхемах памяти большой емкости при воздействии отдельных ядерных частиц [Текст] / А. Б. Боруздина, А. В. Уланова, А. И. Чумаков, А. В. Яненко // Микроэлектроника. – 2016. – Т. 45, № 4. – С. 313-318.
- Катунин, Ю. В. Моделирование характеристик триггерных элементов КМОП двухфазной логики с учетом разделения заряда при воздействии отдельных ядерных частиц [Текст] / Ю. В. Катунин, В. Я. Стенин, П. В. Степанов // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 104-117.
- Стенин, В. Я. Моделирование характеристик КМОП 28-нм ячеек DICE в нестационарных состояниях, вызванных воздействием одиночных ядерных частиц [Текст] / В. Я. Стенин // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 5. – С. 368-379.
|