| |
Методика регистрации многократных сбоев в микросхемах памяти большой емкости при воздействии отдельных ядерных частиц [Текст] / А. Б. Боруздина, А. В. Уланова, А. И. Чумаков, А. В. Яненко
// Микроэлектроника. – 2016. – Т. 45, № 4. – С. 313-318.
Работа посвящена развитию методики регистрации многократных сбоев в микросхемах памяти при воздействии отдельных ядерных частиц. Представленные результаты иллюстрируют возможность выявления многократных сбоев в микросхемах памяти большой емкости с применением доработанной методики. |
