|
Катунин, Ю. В. Моделирование характеристик триггерных элементов КМОП двухфазной логики с учетом разделения заряда при воздействии отдельных ядерных частиц [Текст] / Ю. В. Катунин, В. Я. Стенин, П. В. Степанов // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 104-117.
Сбоеустойчивость к воздействию отдельных ядерных частиц КМОП D и RS-триггеров с двухфазной структурой и ячеек памяти на их основе зависит от реакции на сбор заряда несколькими узлами. Определены критические пары узлов с минимальными критическими зарядами и повышенной помехоустойчивостью. |