Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Катунин, Ю. В.
    Моделирование характеристик триггерных элементов КМОП двухфазной логики с учетом разделения заряда при воздействии отдельных ядерных частиц [Текст] / Ю. В. Катунин, В. Я. Стенин, П. В. Степанов
    // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 104-117.

   Сбоеустойчивость к воздействию отдельных ядерных частиц КМОП D и RS-триггеров с двухфазной структурой и ячеек памяти на их основе зависит от реакции на сбор заряда несколькими узлами. Определены критические пары узлов с минимальными критическими зарядами и повышенной помехоустойчивостью.

  УДК 621.382+621.396.6


            


Є складовою частиною документа Микроэлектроника [Текст] / РАН. – 2014. – Т. 43, № 2.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'