| |
Боруздина, А. Б.
Влияние топологического размещения ячеек в микросхемах памяти на кратность сбоев от ТЗЧ [Текст] / А. Б. Боруздина, Н. Г. Григорьев, А. В. Уланова
// Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 88-93.
Проведен анализ факторов, влияющих на сбоеустойчивость микросхем памяти. Рассмотрены различные топологические конфигурации 6-транзисторных ячеек памяти. |
