| |
Стенин, В. Я.
Моделирование характеристик КМОП 28-нм ячеек DICE в нестационарных состояниях, вызванных воздействием одиночных ядерных частиц [Текст] / В. Я. Стенин
// Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 5. – С. 368-379.
Транзисторы триггера КМОП-ячейки памяти DICE можно разделить на две группы и разнести их топологически, при этом, если воздействие одиночной ядерной частицы оказывается на транзисторы только одной из групп, сбой состояния ячейки не происходит, а ячейка переходит в нестационарное состояние. |
