| |
Быков, В. А.
Уменьшение влияния температурного дрейфа в сканирующих зондовых микроскопах [Текст] / В. А. Быков, Е. В. Кузнецов, Е. С. Пьянков
// Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2010. – № 5. – С. 58-63.
Исследованы особенности термостабилизации устройств сканирующей зондовой микроскопии. |
