Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
еліпсометрія, эллипсометрия
Документи:
- Autonomous Vibrationless Temperature-Controlled Cryosystem for Optical Studies with a Spectroscopic Ellipsometer [Текст] / I. Zharkov, V. Safronov, V. Khodunov [et al.] // Наука та інновації. – 2024. – Т. 20, № 6 (120). – P. 18-29. – DOI: https://doi.org/10.15407/scine20.06.018.
- Аззам, Р. М. Эллипсометрия и поляризованный свет [Текст] / Р. М. Аззам, Н. М. Башара ; Пер. с англ., предисл. и под ред. А.В. Ржанова, К.К. Свиташева. – М. : Мир, 1981. – 583с : ил. – Библиогр.: с. 8.
- Еліпсометричні дослідження плівок CdTe на СdHgTe [Текст] / М. В. Вуйчик, А. З. Євменова, В. А. Одарич, Ф. Ф. Сизов // Фізика і хімія твердого тіла. – 2007. – 8, № 2. – 296-300.
- Конев, В. А. Радиоволновая эллипсометрия [Текст] / В. А. Конев, Е. М. Кулешов, Н. Н. Пунько. – Минск : Наука и техника, 1985. – 104 с.
- Кособуцький, П. С. Закономірності прояву псевдобрюстерівської кутової умови в еліпсометричних спектрах одноплівкових структур сталої товщини [Текст] / П. С. Кособуцький, А. Моргуліс, О. П. Кушнір // Фізика і хімія твердого тіла. – 2008. – 9, № 1. – 193-197.
- Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур [Текст] / В. А. Макара, В. А. Кепич Т. Ю. Одарич, Т. Д. Преображенская, О. В. Руденко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2008. – № 2. – С. 40-46.
- Новиков, А. А. Определение потерь излучения в оптических элементах методами эллипсометрии и спектрофотометрии [Текст] / А. А. Новиков, В. Т. Прокопенко, И. А. Храмцовский // Изв.ВУЗов.Приборостроение. – 2007. – 50, № 3. – С. 62-68.
- Новиков, А. А. Оптические свойства поверхностных слоев силикатных стекол при ионной и электронно-лучевой обработке [Текст] / А. А. Новиков, В. Т. Прокопенко, И. А. Храмцовский // Изв.ВУЗов.Приборостроение. – 2007. – 50, № 8. – С. 54-60.
- Одарич, В. А. Особливості будови й оптичних властивостей приповерхневого шару кремнію [Текст] / В. А. Одарич, Л. В. Поперенко, І. В. Юргелевич // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2019. – Т. 17, № 3. – С. 507-518.
- Оптичні характеристики вуглецевих покриттів на підкладках кремнію [Текст] / С. П. Старик, О. Г. Гонтар, В. Ю. Горохов, Б. А. Горштейн // Сверхтвердые материалы. – 2004. – № 6. – 64-68.
- Современные проблемы эллипсометрии [Текст] / Отв. ред. А.В. Ржанов. – Новосибирск : Наука, 1980. – 192 с.
|
