| |
Новиков, А. А.
Определение потерь излучения в оптических элементах методами эллипсометрии и спектрофотометрии [Текст] / А. А. Новиков, В. Т. Прокопенко, И. А. Храмцовский
// Изв.ВУЗов.Приборостроение. – 2007. – 50, № 3. – С. 62-68.
Рассматривается эллипсометрический метод определения потерь излучения в поверхностном слое оптических элементов ионных лазеров и показателя ослабления излучения в кварцевом стекле, основанный на сопоставительном анализе данных, полученных методами спектрофотометрии и эллипсометрии. |
