Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
мікроскоп атомно-силовий, микроскоп атомно-силовой
Документи:
- Андрієнко, О. Автоматизована система нанометричного контролю на базі атомно-силового мікроскопа [Текст] / О. Андрієнко, Д. Тичков, М. Бондаренко // Контроль і управління в складних системах (КУСС-2020) : XV Міжнародна конференція : тези доповідей, Вінниця, 8-10 жовтня 2020 року / ВНТУ, ХНУРЕ. – Вінниця : ВНТУ, 2020. – С. 99-100.
- Бобринецький, И. И. "Засвечивание" углеродных нанотрубок в атомно-силовом микроскопе [Текст] / И. И. Бобринецький, В. К. Неволин, А. А. Строганов // Изв.ВУЗов. Электроника. – 2004. – № 3. – 83-85.
- Метод изготовления зонда для комбинированного сканирующего тунельного и атомно-силового микроскопа на основе кварцевого камертона с металлической суперострой иглой [Текст] / В. В. Дрёмов, I. Y. Jum'h, И. А. Магеррамов, P. H. Muller // Приборы и техника эксперимента. – 2013. – № 5. – С. 98-102.
- Казанцев, Д. В. Четырехсегментный фотодиодный датчик изгиба кантилевера атомно-силового микроскопа [Текст] / Д. В. Казанцев, Е. А. Казанцева // Приборы и техника эксперимента. – 2014. – № 5. – С. 120-128.
- Поляков, В. В. Оптимизация угловой апертуры лазерной системы датчика изгибов кантилевера атомно-силового микрокопа [Текст] / В. В. Поляков // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2009. – № 4. – С. 87-89.
- Формирование наноструктур на поверхности металлических пленок зондом атомно-силового микроскопа при воздействии лазерными импульсами [Текст] / А. Н. Степанов, А. В. Кирсанов, А. М. Киселев, Н. И. Полушкин // Оптический журнал. – 2004. – 71, № 6. – 52-57.
- Стогний, А. И. Метод оценки толщины ультратонких пленок [Текст] / А. И. Стогний, Н. Н. Новицкий, О. М. Стукалов // Приборы и техника эксперимента. – 2003. – № 3. – 131-134.
|
