|
| | |
Андрієнко, О.
Автоматизована система нанометричного контролю на базі атомно-силового мікроскопа [Текст] / О. Андрієнко, Д. Тичков, М. Бондаренко
// Контроль і управління в складних системах (КУСС-2020) : XV Міжнародна конференція : тези доповідей, Вінниця, 8-10 жовтня 2020 року / ВНТУ, ХНУРЕ. – Вінниця : ВНТУ, 2020. – С. 99-100.
|
| |
|
