Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
микроскоп сканирующий
Документи:
- Разработка и изготовление ближнепольного терагерцового сканирующего оптического микроскопа с блоком нарушенного полного внутреннего отражения [Текст] / В. П. Барсуков, А. Г. Верхогляд, В. В. Герасимов [и др.] // Приборы и техника эксперимента. – 2014. – № 5. – С. 68-76.
- Создание литографических масок с помощью сканирующего зондового микроскопа [Текст] / Д. А. Бизяев, А. А. Бухараев, С. А. Зиганшина [и др.] // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 6. – С. 437-447.
- Ячейка для исследования горных пород в сканирующем электронном микроскопе при температуре до 600 градусов Цельсия и приложенном напряжении до 100 МПа [Текст] / В. М. Витовтова, И. М. Романенко, В. М. Шмонов, А. В. Жариков // Приборы и техника эксперимента. – 2003. – № 5. – 138-140.
- Ближнепольный туннельный сканирующий оптический микроскоп [Текст] / Ю. М. Воронин, М. М. Иванов, П. С. Парфенов [et al.] // Изв.ВУЗов.Приборостроение. – 2004. – № 12. – 45-50.
- Универсальный зондовый датчик для сканирующих нанотвердомеров [Текст] / К. В. Гоголинский, И. И. Маслеников, В. Н. Решетов, А. С. Усеинов // Приборы и техника эксперимента. – 2013. – № 5. – С. 90-97.
- Метод изготовления зонда для комбинированного сканирующего тунельного и атомно-силового микроскопа на основе кварцевого камертона с металлической суперострой иглой [Текст] / В. В. Дрёмов, I. Y. Jum'h, И. А. Магеррамов, P. H. Muller // Приборы и техника эксперимента. – 2013. – № 5. – С. 98-102.
- Жихарев, А. В. Газожидкостная ячейка для сканирующих зондовых микроскопов [Текст] / А. В. Жихарев, С. Г. Быстров // Приборы и техника эксперимента. – 2004. – № 6. – 115-118.
- Жихарев, А. В. Устройство точного позиционирования зонда для сканирующих зондовых микроскопов [Текст] / А. В. Жихарев, С. Г. Быстров, О. В. Карбань // Приборы и техника эксперимента. – 2003. – № 3. – 127-130.
- Жуков, А. А. Сканирующий зондовый микроскоп для исследований электронного транспорта при низких температурах [Текст] / А. А. Жуков // Приборы и техника эксперимента. – 2008. – № 1. – С. 142-146.
- Характеристики и применения полупроводниковых детекторов отраженных электронов в сканирующем электронном микроскопе [Текст] / С. В. Зайцев, С. Ю. Купреенко, Э. И. Рау, А. А. Татаринцев // Приборы и техника эксперимента. – 2015. – № 6. – с. 51-59.
- Модификация держателя образца для сканирующего туннельного микроскопа VT STM (OMICRON) [Текст] / В. Г. Котляр, Б. К. Чурусов, Д. А. Олянич [и др.] // Приборы и техника эксперимента. – 2013. – № 6. – С. 105-109.
- Логинов, Б. А. Сканер для сверхвысоковакуумного низкотемпературного сканирующего туннельного микроскопа [Текст] / Б. А. Логинов, К. В. Ельцов, С. В. Зайцев-Зотов // Приборы и техника эксперимента. – 2007. – № 3. – 148-149.
- Маслеников, И. И. Построение карт модуля упругости поверхности сканирующим зондовым микроскопом "Наноскан 3D" [Текст] / И. И. Маслеников, В. Н. Решетов, А. С. Усеинов // Приборы и техника эксперимента. – 2015. – № 5. – С. 136-142.
- Офицеров, А. В. Электромагнитная трехкоординатная шаговая система позиционирования острия сканирующего туннельного микроскопа [Текст] / А. В. Офицеров, В. С. Эдельман // Приборы и техника эксперимента. – 2005. – № 2. – 133-139.
- Рощин, В. М. Сверхтонкие проводящие пленки состава WxC для кремниевых кантилеверов сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / В. М. Рощин // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2003. – № 3. – 44-49.
- Семин, С. В. Автоматизированный двухфотонный сканирующий микроскоп [Текст] / С. В. Семин, А. В. Кудрявцев, Е. Д. Мишина // Приборы и техника эксперимента. – 2012. – № 1. – С. 86-92.
- Титов, С. А. Малогабаритный многоканальный сканирующий акустический микроскоп [Текст] / С. А. Титов, Р. Г. Маев, А. Н. Богаченков // Приборы и техника эксперимента. – 2009. – № 5. – С. 116-120.
- Трояновский, А. М. Компактный 3D-нанопозиционер сканирующего туннельного микроскопа, работающий при температурах 4.2-300 К [Текст] / А. М. Трояновский, D. Roditchev // Приборы и техника эксперимента. – 2012. – № 6. – С. 110-116.
- Усанов, Д. А. Применение ближнеполевого сканирующего СВЧ-микроскопа для исследования распределения концентрации носителей заряда и электрического поля в арсенид-галлиевом диоде Ганна [Текст] / Д. А. Усанов, С. С. Горбатов, А. В. Фадеев // Радиотехника. XXI век. – 2014. – № 10. – С. 74-77.
- Цысарь, М. А. Компьютерное моделирование формирования трехмерного изображения поверхности пиролитического графита в методе сканирующей туннельной микроскопии с использованием алмазного острия, легированного бором [Текст] / М. А. Цысарь // Сверхтвердые материалы. – 2011. – № 3. – С. 55-64.
|