| |
Модификация держателя образца для сканирующего туннельного микроскопа VT STM (OMICRON) [Текст] / В. Г. Котляр, Б. К. Чурусов, Д. А. Олянич [и др.]
// Приборы и техника эксперимента. – 2013. – № 6. – С. 105-109.
Описана конструкция держателя образца для сканирующего туннельного микроскопа с изменяемой температурой образца VT STM (Omicron), существенно расширяющая диапазон исследуемых материалов, структура поверхности которых чувствительна к малым концентрациям загрязнений. |
