Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
МОП-структура
Підтеми:
Документи:
- Андрюхин, А. И. Метод параллельной генерации тестов на переключательном уровне для МОП-схем [Текст] / А. И. Андрюхин // Электронное моделирование. – 2011. – Т. 33, № 1. – С. 91-98.
- Балашов, А. Г. Исследование порогового напряжения вертикальной МОП-структуры с использованием методов приборно-технологческого моделирования [Текст] / А. Г. Балашов // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2005. – № 3. – 90-91.
- Влияние радиационно-индуцированных эффектов на радиационную стойкость кремниевых МОП-структур [Текст] / Э. М. Гаджиев, Я. Ю. Гусейнов, Н. М. Исмайлов, Ф. Д. Касимов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2001. – № 2. – С. 28-30.
- Гасанов, А. М. Микронегатронный преобразователь давления на основе кремниевой МОП-структуры [Текст] / А. М. Гасанов, Ф. Д. Касимов, А. Э. Лютфалибекова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2004. – № 5. – 29-31.
- Генерационная активность и структурные дефекты приповерхностного слоя кремния [Текст] / В. Н. Давыдов, С. В. Беляев, В. В. Попов [и др.] // Изв.ВУЗов.Физика. – 2003. – 46, № 11. – С. 66-72.
- Эффекты переключения и памяти в МОП-структурах Al-SiO2-Si [Текст] / З. А. Искендер-заде, М. Р. Ахундов, Э. A. Джафарова, Ш. А. Алиханова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2004. – № 2. – 59-61.
- Новосядлий, С. П. Нерівноважні імпульсні вольт-фарадні характеристики МОП-структури для прогнозування надійності великих інтегральних схем [Текст] / С. П. Новосядлий, Р. І. Запухляк // Металлофизика и новейшие технологии. – 2004. – 26, № 1. – 35-50.
- Согоян, А. В. Водородно-электронная модель накопления поверхностных состояний на границе раздела окисел-полупроводник при воздействии ионизирующего излучения [Текст] / А. В. Согоян, С. В. Черепко, В. С. Першенков // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 156-158.
- Тутов, Е. А. МОП-структуры с аморфным триоксидом вольфрама для емкостных сенсоров влажности [Текст] / Е. А. Тутов // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2007. – № 5. – 36-39.
|