| |
Согоян, А. В.
Водородно-электронная модель накопления поверхностных состояний на границе раздела окисел-полупроводник при воздействии ионизирующего излучения [Текст] / А. В. Согоян, С. В. Черепко, В. С. Першенков
// Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 156-158.
Представлены результаты экспериментального исследования кинетики послерадиационного образования поверхностных состояний в МОП-структуре в среде молекулярного водорода в различных полевых режимах. |
