• Класифікатори
• дослідження, исследование, research

исследование рентгеновское

Документи:

• Абдукадырова, И. Х. Зависимость параметров стеклообразного кремнезема от флюенса быстрых нейтронов [Текст] / И. Х. Абдукадырова // Изв.ВУЗов.Физика. – 2003. – 46, № 5. – 90-94.
• Андрущик, Л. О. Технологические основы получения, структура и свойства спеченных электроконтактным нагревом кольцеобразных сталей [Текст] / Л. О. Андрущик, С. П. Ошкадеров // Порошковая металлургия. – 2003. – № 7-8. – 16-26.
• Афанасьев, А. М. Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов [Текст] / А. М. Афанасьев, П. А. Александров, Р. М. Имамов. – М. : Наука, 1986. – 95с : ил. – (Проблемы науки и технического прогресса: ПН ТП). – Библиогр.: с. 93.
• Зауличный, Я. В. Особенности тонкой структуры рентгеновских эмиссионных СКа-полос фуллера и графита [Текст] / Я. В. Зауличный, Ю. М. Солонин, С. С. Звезда // Доповіді НАНУ. – 2004. – № 9. – 76-79.
• Связь эксплуатационных свойств композиционного материала Cu - Sn - CuWoS_4 - MoS_2 с микромеханическими характеристиками поверхности трения [Текст] / А. Г. Косторнов, О. И. Фущич, В. Ф. Горбань [и др.] // Порошковая металлургия. – 2010. – № 11-12. – С. 38-46.
• Молодкин, В. Б. Физический механизм межветвевого рассеяния рентгеновских лучей в упругоизогнутом кристалле [Текст] / В. Б. Молодкин, М. Б. Шевченко, О. В. Побидайло // Металлофизика и новейшие технологии. – 2000. – 22, № 3. – 17-25.
• Рентгеновские исследования дефектов структуры в приповерхностных слоях монокристаллов германия и кремния, деформированных при 310 К [Текст] / В. А. Надточий, И. В. Жихарев, Н. Н. Голоденко, Н. С. Киселев // Физика и техника высоких давлений. – 2003. – 13, № 1. – 91-95.
• Неустроев, А. С. Сопоставление рентгеновского и пикнометрического методов оценки качества слоев нитрида алюминия [Текст] / А. С. Неустроев, С. А. Неустроев // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2006. – № 2. – 92-93.
• Рагозин, Е. Н. Продвижение лазеров на свободных электронах в рентгеновскую область спектра [Текст] / Е. Н. Рагозин, И. И. Собельман // Успехи физических наук. – 2004. – 174, № 2. – 207-208.
• Изображение микродефектов на рентгеновских секционных топограммах в акустически возбужденном кристалле [Текст] / Н. Д. Раранский, В. Б. Молодкин, И. М. Фодчук [и др.] // Металлофизика и новейшие технологии. – 2000. – 22, № 3. – 26-32.
• Савушкин, А. В. Оптическая схема рентгеновского спектрометра скользящего падения для космического солнечного патруля [Текст] / А. В. Савушкин // Оптический журнал. – 2002. – 69, № 11. – 34-35.
• Смирнов, А. В. Решение обратной коллимационной задачи для рентгеновского малоуглового изотропного рассеяния с помощью сплайновых функций [Текст] / А. В. Смирнов, В. С. Сизиков, Б. А. Федоров // Изв.ВУЗов.Приборостроение. – 2006. – 49, № 1. – 41-47.
• Турьянский, А. Г. Полупрозрачный рентгеновский монохроматор решетчатого типа [Текст] / А. Г. Турьянский, И. В. Пиршин // Приборы и техника эксперимента. – 2000. – № 4. – 117-122.
• Эпитаксиальный пленочный рентгеновский интерферометр - инструмент для изучения структуры полупроводниковой гетеросистемы [Текст] / А. А. Федоров, А. В. Колесников, А. П. Василенко [et al.] // Приборы и техника эксперимента. – 2000. – № 2. – 135-139.
• Фодчук, И. М. Влияние одномерных деформаций на формирование изображений микродефектов на рентгеновских секционных топограммах [Текст] / И. М. Фодчук // Металлофизика и новейшие технологии. – 2000. – 22, № 1. – С. 69-76.
• Хижун, О. Ю. Рентгеновские эмиссионные и фотоэлектронные спектры оксидов вольфрама [Текст] / О. Ю. Хижун // Металлофизика и новейшие технологии. – 2000. – 22, № 3. – 55-63.
• Использование рентгеновского компьютерного микротомографа для исследования распределения металла-катализатора в поликристаллах алмаза, выращенных из графита [Текст] / Е. Н. Яковлев, А. А. Антанович, Е. В. Козорезов, П. Н. Самородский // Сверхтвердые материалы. – 2000. – № 2. – 54-61.
• ГОСТ 29025-91 Дефектоскопы рентгенотелевизионные с рентгеновскими электронно-оптическими преобразователями и электрорентгенографические [Текст] : Общие технические требования. – Взамен ГОСТ 4.177-85. в части рентгенотелевизионных с рентгеновскими электронно-оптическими преобразователями и электрорентгенооптическими преобразователями и электрорентгенографических дефектоскопов.