Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
автомат Брауэра
Документи:
- Барбашов, В. М. Функционально-логическое моделирование деградации цифровых БИС при воздействии радиации [Текст] / В. М. Барбашов // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 1. – С. 59-64.
- Барбашов, В. М. Использование вероятностных и нечетких моделей при моделировании радиационных отказов БИС [Текст] / В. М. Барбашов, Н. С. Трушкин, К. А. Епифанцев // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 142-155.
- Барбашов, В. М. Детерминированные и недетерминированные модели отказов БИС при воздействии радиации [Текст] / В. М. Барбашов, Н. С. Трушкин, О. А. Калашников // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 5. – С. 355-358.
|