| |
Барбашов, В. М.
Использование вероятностных и нечетких моделей при моделировании радиационных отказов БИС [Текст] / В. М. Барбашов, Н. С. Трушкин, К. А. Епифанцев
// Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 142-155.
Предложен подход к оценке взаимосвязи вероятностных и нечетких моделей для моделирования функциональных отказов БИС, которые основаны на нечетком цифровом автомате Брауэра и топологических вероятностных моделях оценки работоспособности цифровых устройств. |
