| |
Барбашов, В. М.
Детерминированные и недетерминированные модели отказов БИС при воздействии радиации [Текст] / В. М. Барбашов, Н. С. Трушкин, О. А. Калашников
// Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 5. – С. 355-358.
Предложены методы оценок взаимосвязи вероятностных и порядковых моделей для моделирования функциональных отказов БИС, которые основаны на модели нечеткого цифрового автомата Брауэра и вероятностного надежностного автомата. |
