• Класифікатори
• мікроскоп, микроскоп

мікроскоп електронний, микроскоп электронный

Документи:

• Pawandeep, Kaur Властивості будівельного вапняного розчину на основі метакаоліну із багатостінними вуглецевими нанотрубками [Текст] / K. Pawandeep, S. Jaspal // Фізико-хімічна механіка матеріалів. – 2022. – № 6. – С. 121-126.
• Васильева, Л. А. Электронная микроскопия в металловедении цветных металлов [Текст] : Справочник / Л. А. Васильева, Л. М. Малашенко, Р. Л. Тофпенец. – Мн. : Наука и техника, 1989. – 208с : ил. – Библиогр.: с.205-207. – ISBN 5-343-00089-4.
• Ячейка для исследования горных пород в сканирующем электронном микроскопе при температуре до 600 градусов Цельсия и приложенном напряжении до 100 МПа [Текст] / В. М. Витовтова, И. М. Романенко, В. М. Шмонов, А. В. Жариков // Приборы и техника эксперимента. – 2003. – № 5. – 138-140.
• Исследование тепловой деградации кремниевого автоэмиссионного катода как двухфазной системы [Текст] / Н. А. Дюжев, М. А. Махиборода, В. И. Кретов [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2011. – № 4. – С. 23-29.
• Дюков, В. Г. Электронная микроскопия локальных потенциалов [Текст] / В. Г. Дюков, С. А. Непийко, Н. Н. Седов ; АН УССР. Ин-т физики. – К. : Наук.думка, 1991. – 198с : ил. – ISBN 5-12-002339-8.
• Характеристики и применения полупроводниковых детекторов отраженных электронов в сканирующем электронном микроскопе [Текст] / С. В. Зайцев, С. Ю. Купреенко, Э. И. Рау, А. А. Татаринцев // Приборы и техника эксперимента. – 2015. – № 6. – с. 51-59.
• Карупу, В. Я. Электронная микроскопия [Текст] / В. Я. Карупу. – К. : Вища школа, 1984. – 208с.
• Кузьмін, І. В. Класифікаційне настроювання електронного мікроскопа за методом функційно-статистичних випробувань [Текст] / І. В. Кузьмін // Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. – 2001. – № 1. – С. 92-98.
• Куликов, В. А. Влияние твердого нефтесодержащего отхода сепарации нефтешлама на фазовый состав и физико-механические свойства керамзита [Текст] / В. А. Куликов, в. З. Абдрахимов, И. В. Ковков // Известия вузов. Строительство. – 2010. – № 6. – С. 28-34.
• Молоканова, Л. Г. Подготовка сколов трековых мембран из полиэтиленнафталата для изучения на электронном микроскопе [Текст] / Л. Г. Молоканова, О. Л. Орелович, С. Н. Чукова // Приборы и техника эксперимента. – 2016. – № 4. – С. 130-132.
• Новиков, Ю. А. Виртуальный растровый электронный микроскоп. 4. Реализация на основе симулятора [Текст] / Ю. А. Новиков // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 6. – С. 456-467.
• Пилянкевич, А. Н. Электронные микроскопы [Текст] / А. Н. Пилянкевич, А. М. Климовицкий. – К. : Техніка, 1976. – 166 с.
• Реутов, В. Ф. Методика подготовки образцов из металлических нанопроволочек для электронной и атомно-силовой микроскопии [Текст] / В. Ф. Реутов, М. Ф. Микляев, Б. В. Мчедлишвили // Приборы и техника эксперимента. – 2007. – № 3. – 144-147.
• Спенс, Дж. Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения [Текст] / Дж. Спенс ; пер. Пер. с англ. – М. : Наука, 1986. – 320с : ил. – Библиогр.: с. 313-320.
• ГОСТ 21006-75 Микроскопы электронные [Текст] : Термины, определения и буквенные обозначения.
• Атомы "глазами" электронов [Текст] : актуальные проблемы физики. – Москва : Знание, 1988. – 64 с. – (Новое в жизни, науке, технике. Сер. "Физика"). – 0,11 р.
• Практическая растровая электронная микроскопия [Текст] / Под ред. Дж. Гоулдстейна; Пер. с англ. под ред. В.И. ПетроваГоулдстейн Дж. – М. : Мир, 1978. – 656 с.