Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
Класифікатори
мікроскоп, микроскоп
микроскоп ионный
Документи:
Жуков, В. А.
Преимущества использования в ионных микроскопах суперострийных источников Xe+ с полевой ионизацией газа [Текст] / В. А. Жуков, З. Калбитцер // Микроэлектроника. – 2011. – Т. 40, № 1. – С. 21-29.
Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'
