Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
Класифікатори
С
спектроскопія позитронна
Документи:
Оптимізований метод вимірювання позитронних анігіляційних спекторів у наноматеріалах з розвиненою поруватістю для сенсорних застосувань [Текст] / Г. Клим, Ю. Костів, Д. Чалий [та ін.] // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник / МОН України. – Львів : Вид-во НУ "Львівська політехніка", 2016. – Вип. 77. – С. 87-93.
Позитронна та фотолюмінесцентна спектроскопія монокристала LiF, опроміненого позитронами [Текст] / М. М. Ніщенко, С. П. Ліхторович, С. М. Яблочков, В. Ю. Кудрявцев // Український фізичний журнал. – 2000. – 45, № 6. – С. 679-683.
Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'
