| |
Оптимізований метод вимірювання позитронних анігіляційних спекторів у наноматеріалах з розвиненою поруватістю для сенсорних застосувань [Текст] / Г. Клим, Ю. Костів, Д. Чалий [та ін.]
// Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник / МОН України. – Львів : Вид-во НУ "Львівська політехніка", 2016. – Вип. 77. – С. 87-93.
Запропоновано та використано оптимізований за апаратною складністю метод вимірювання позитронних анігіляційних спектрів для дослідження вологочутливої кераміки MgO-Al_2O_3 з розвиненою нанопоруватістю. |
