Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
АСМ (атомная силовая микроскопия)
Документи:
- Исследование режимов формирования оксидных наноразмерных структур арсенида галлия методом локального анодного окисления [Текст] / О. А. Агеев, В. А. Смирнов, М. С. Солодовник [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 2. – С. 43-50.
- Наногетероструктуры с повышенной подвижностью электронов, полученные методом МЛЭ [Текст] / А. Н. Алексеев, С. И. Петров, В. К. Неволин [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2011. – № 5. – С. 69-74.
- Благов, Е. В. Моделирование силовых поверхностей в атомно-силовой микроскопии в контактной моде на постоянной высоте [Текст] / Е. В. Благов // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2001. – № 1. – 92-99.
- Исследование углеродного наноматериала методами атомно-силовой и электронной микроскопии [Текст] / И. И. Бобринецкий, В. Н. Кукин, В. К. Неволин, М. М. Симунин // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2007. – № 4. – 3-6.
- Атомно-силовая микроскопия биологических наночастиц на воздухе [Текст] / И. И. Бобринецкий, Р. А. Мороз, В. В. Трошин, Е. Ю. Чаплыгин // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 2. – С. 36-41.
- Особенности интеграции графенов в технологические процессы микроэлектроники [Текст] / И. И. Бобринецький, И. А. Комаров, К. К. Лаврентьев [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 3. – С. 33-42.
- Быстров, С. Г. применение селективных химических реакций в атомной силовой микроскопии для получения информации о локальном физико-химическом строении поверхности полимерных материалов [Текст] / С. Г. Быстров // Приборы и техника эксперимента. – 2009. – № 2. – С. 153-158.
- Исследование сложнопрофильных микрообьектов методами атомной силовой микроскопии [Текст] / А. И. Галушков, И. В. Годовицын, А. Н. Сауров [et al.] // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2007. – № 1. – 83-84.
- Герасименко, Н. Н. Фрактальный анализ поверхности слоя CoSi2, полученного ионным синтезом [Текст] / Н. Н. Герасименко, М. Н. Павлюченко, К. К. Джаманбалин // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2002. – № 6. – 17-24.
- Катеринчук, В. Н. Электрические и топологические свойства пленок оксидов, термически выращенных на подложках InSe [Текст] / В. Н. Катеринчук, В. Д. Ковалюк, В. В. Хомяк // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2010. – № 5-6. – С. 51-53.
- Фазо-инверсионные градиентно-пористые пленки на основе полиамидоимидов из дихлорангидрида дикарбоксифенилфталимида и диаминов различного химического строения [Текст] / С. В. Кононова, Е. В. Кручинина, К. А. Ромашкова [и др.] // Журнал общей химии. – 2010. – 80, № 10. – С. 1666-1675.
- Алмазные монокристаллические зонды для атомно-силовой микроскопии [Текст] / П. Г. Копылов, Б. А. Логинов, Р. Р. Исмагилов, А. Н. Образцов // Приборы и техника эксперимента. – 2010. – № 4. – С. 156-162.
- Новак, А. В. Формирование пленок поликристаллического кремния с полусферическими зернами для конденсаторных структур с повышенной емкостью [Текст] / А. В. Новак // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 6. – С. 10-16.
- Реутов, В. Ф. Методика подготовки образцов из металлических нанопроволочек для электронной и атомно-силовой микроскопии [Текст] / В. Ф. Реутов, М. Ф. Микляев, Б. В. Мчедлишвили // Приборы и техника эксперимента. – 2007. – № 3. – 144-147.
- Исследование процессов самоорганизации квантовых точек сульфида свинца [Текст] / С. А. Тарасов, О. А. Александрова, А. И. Максимов [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 3. – С. 28-32.
- Атомно-силовая микроскопия и фотолюминесцентный анализ пористых материалов на основе оксидов металлов [Текст] / С. А. Тарасов, И. Е. Грачева, К. Г. Гареев [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 2. – С. 21-26.
- Тихомиров, А. А. Методика проведения измерений в полуконтактной моде атомно-силовой микроскопии [Текст] / А. А. Тихомиров, С. Ю. Краснобородько, В. И. Шевяков // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 4. – С. 94-95.
- Федоров, Р. Г. Применение атомно-силовой микроскопии при электроосаждении металлов в магнитном поле [Текст] / Р. Г. Федоров, А. В. Хлынов // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2009. – № 6. – С. 81-83.
|