Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
Класифікатори
О
оценка искажений
Документи:
Старков, А. В.
Метод оценки искажений топологии для детальной трассировки нанометровых СБИС [Текст] / А. В. Старков // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 2. – С. 54-58.
Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'