Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
полупроводниковая структура
Документи:
- Белов, А. Н. Синтез полупроводниковых нитевидных нанокристаллов методом импульсного электрохимического осаждения с дальнейшей сульфидизацией [Текст] / А. Н. Белов, С. А. Гаврилов // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2006. – № 1. – 31-35.
- Волков, О. А. Радиочастотно-оптический модуляционный спектроскоп для исследования полупроводниковых структур [Текст] / О. А. Волков, О. А. Рябушкин // Приборы и техника эксперимента. – 2001. – № 5. – 121-125.
- Процессы разрушения полупроводниковых структур при пробое [Текст] / М. Ю. Волокобинский, Т. В. Матюхина, А. С. Сотенко, А. С. Фалина // Электротехника. – 2002. – № 11. – 45-47.
- Воробьева, Т. А. Комбинированное полевое управление процессом переноса носителей заряда в многослойных полупроводниковых структурах [Текст] / Т. А. Воробьева, Н. Т. Гурин // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2002. – № 5. – 22-30.
- Карушкин, Н. Ф. Умножители частоты миллиметрового диапазона на основе полупроводниковых диодных структур [Текст] / Н. Ф. Карушкин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2018. – № 3. – С. 22-37.
- Касимов, Ф. Д. Расчет упругих механических напряжений в неоднородных полупроводниковых структурах [Текст] / Ф. Д. Касимов, А. Э. Лютфалибекова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2002. – № 2. – 13-14.
- Установка для определения параметров полупроводниковых структур по магнитным квантовым эффектам и спектроскопии адмиттанса [Текст] / А. А. Корнилович, В. Г. Литвинов, А. В. Ермачихин, Д. С. кусакин // Приборы и техника эксперимента. – 2014. – № 4. – С. 111-119.
- Наумов, В. В. Лазерный сканирующий измеритель времени жизни неравновесных носителей заряда полупроводниковых структур [Текст] / В. В. Наумов, О. А. Гребенщиков, В. Б. Залесский // Приборы и техника эксперимента. – 2006. – № 5. – 164.
- Подольцев, А. Д. Компьютерное моделирование и анализ неравномерности распределения плотности тока и температуры в объеме светоизлучающей полупроводниковой структуры [Текст] / А. Д. Подольцев, И. Н. Кучерявая // Технічна електродинаміка. – 2001. – № 5. – 10-17.
- Поляков, Н. Н. Измерение электропроводимости и коэффициента Холла неоднородных по глубине полупроводниковых структур [Текст] / Н. Н. Поляков, В. Е. Олейников // Изв.ВУЗов.Физика. – 2000. – № 1. – 46-51.
- Раков, А. В. Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур [Текст] / А. В. Раков. – Москва : Советское радио, 1975. – 176 с. – 0,55 р.
- СВЧ-метод измерения подвижности свободных носителей заряда в полупроводниковых структурах [Текст] / Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль, А. В. Абрамов, В. А. Поздняков // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2004. – № 2. – 76-84.
- Молекулярно-лучевая эпитаксия и гетероструктуры [Текст] / Л.Эсаки, Б.А.Джойс, Р.Хекингботтом и др.; Под ред. Л.Ченга, К.Плога; Пер. с англ. Ж.И.Алферова. – М. : Мир, 1989. – 582с : ил. – Библиогр.: с. 579-580. – ISBN 5-03-000737-7.
- Некоторые вопросы надежности и устойчивости полупроводниковых материалов и структур к воздействиям внешних дестабилизирующих факторов [Текст] : Материалы семинара, 01.11.847-06.11.84 / МВССО Таджикской ССР. – Душанбе : Таджик. гос. ун-т, 1986. – 167с.
|
