| |
Процессы разрушения полупроводниковых структур при пробое [Текст] / М. Ю. Волокобинский, Т. В. Матюхина, А. С. Сотенко, А. С. Фалина
// Электротехника. – 2002. – № 11. – 45-47.
Приводятся результаты исследований разрушений п-р-п-транзисторов при пробое |
