Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
мікроскоп тунельний, микроскоп туннельный
Документи:
- Булавенко, С. Ю. Дослідження поверхні Si(111)7 7 поблизу кутових ям за допомогою скануючого тунельного мікроскопа з різними вістрями [Текст] / С. Ю. Булавенко, П. В. Мельник, М. Г. Находкін // Український фізичний журнал. – 2002. – 47, № 7. – 690-693.
- Ближнепольный туннельный сканирующий оптический микроскоп [Текст] / Ю. М. Воронин, М. М. Иванов, П. С. Парфенов [et al.] // Изв.ВУЗов.Приборостроение. – 2004. – № 12. – 45-50.
- Метод изготовления зонда для комбинированного сканирующего тунельного и атомно-силового микроскопа на основе кварцевого камертона с металлической суперострой иглой [Текст] / В. В. Дрёмов, I. Y. Jum'h, И. А. Магеррамов, P. H. Muller // Приборы и техника эксперимента. – 2013. – № 5. – С. 98-102.
- Жданов, Г. С. Пространственное разрешение ближнепольных оптических приборов [Текст] / Г. С. Жданов // Оптический журнал. – 2004. – 71, № 6. – 65-70.
- Зуев, В. С. Наноструктуры в лазерном эксперименте [Текст] / В. С. Зуев, А. В. Францессон // Квантовая электроника. – 2001. – 31, № 2. – 120-126.
- Модификация держателя образца для сканирующего туннельного микроскопа VT STM (OMICRON) [Текст] / В. Г. Котляр, Б. К. Чурусов, Д. А. Олянич [и др.] // Приборы и техника эксперимента. – 2013. – № 6. – С. 105-109.
- Офицеров, А. В. Электромагнитная трехкоординатная шаговая система позиционирования острия сканирующего туннельного микроскопа [Текст] / А. В. Офицеров, В. С. Эдельман // Приборы и техника эксперимента. – 2005. – № 2. – 133-139.
- Трояновский, А. М. Компактный 3D-нанопозиционер сканирующего туннельного микроскопа, работающий при температурах 4.2-300 К [Текст] / А. М. Трояновский, D. Roditchev // Приборы и техника эксперимента. – 2012. – № 6. – С. 110-116.
|
