Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
Класифікатори
ІС (інтегральні схеми = схема інтегральна), ИС (интегральные схемы = схема интегральная)
ИС (интегральные схемы) субмикронные
Документи:
Емельянов, А. В.
Влияние режимов формирования барьерного слоя на надежность систем металлизации ИС [Текст] / А. В. Емельянов, В. А. Емельянов, С. Ф. Сенько // Микроэлектроника. – 2011. – Т. 40, № 5. – С. 344-350.
Копп, У.
Технология TruThrm для измерения температуры встроенными датчиками субмикронных ИС [Текст] / У. Копп // Электронные компоненты. – 2006. – № 6. – 102-104.
Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'