| |
Копп, У.
Технология TruThrm для измерения температуры встроенными датчиками субмикронных ИС [Текст] / У. Копп
// Электронные компоненты. – 2006. – № 6. – 102-104.
Разработанная компанией National Semiconductor новая технология TruTherm позволяет проводить при помощи встроенных датчиков точные измерения температуры микросхем, изготовленных по субмикронной технологии |
