Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
Класифікатори
система
система TCAD
Документи:
Методика измерения механических напряжений в тонких пленках на пластине с помощью оптического профилометра [Текст] / Н. А. Дюжев, А. А. Дедкова, Е. Э. Гусев, А. В. Новак // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2016. – № 4. – С. 367-372.
Лапин, А. Е.
Влияние квантования носителей в поликремниевом затворе на сдвиг порогового напряжения МДП-транзистора [Текст] / А. Е. Лапин, Ю. А. Парменов // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2017. – Т. 22, № 2. – С. 171-179.
Петросянц, К. О.
Учет влияния температуры на радиационный сдвиг порогового напряжения МОП-транзистора в системе TCAD [Текст] / К. О. Петросянц, Д. А. Попов // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 4. – С. 96-97.
Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'