Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
частица ядерная
Документи:
- Диагностика независимых событий одиночных сбоев и тиристорных эффектов при испытаниях цифровых КМОП ИС [Текст] / А. О. Ахметов, Д. В. Бобровский, О. А. Калашников [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 5. – С. 85-90.
- Катунин, Ю. В. Помехоустойчивость двухфазной КМОП 28 нм комбинационной логики к переходным эффектам воздействия одиночных ядерных частиц [Текст] / Ю. В. Катунин, В. Я. Стенин // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 4. – С. 290-298.
- Кристи, Р. Строение вещества: введение в современную физику [Текст] : пер. с англ. / Р. Кристи, А. Питти ; под ред. Ю. М. Широкова. – Москва : Наука, 1969. – 596 с. – 2,77 р.
- Ольчев, С. И. Двухфазные КМОП логические элементы с повышенной сбоеустойчивостью к воздействию отдельных ядерных частиц [Текст] / С. И. Ольчев, В. Я. Стенин // Микроэлектроника. – 2011. – Т. 40, № 3. – С. 170-183.
- Савченко, Д. В. Влияние конечного размера пятна лазерного облучения на достоверность оценка сечений одиночных эффектов [Текст] / Д. В. Савченко, А. А. Печенкин // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 5. – С. 71-77.
- Стенин, В. Я. Моделирование воздействия отдельных ядерных частиц на КМОП цифровые схемы по параметрам импульсов воздействующего тока [Текст] / В. Я. Стенин // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2011. – № 3. – С. 50-57.
- Стенин, В. Я. Моделирование переходных характеристик суб-100-нк КМОП двухфазных инверторов при локальном воздействии ядерной частицы [Текст] / В. Я. Стенин // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 2. – С. 23-32.
- Стенин, В. Я. Моделирование пороговых параметров, органичивающих сбоеустойчивость 45-и 65-нм двухфазных КМОП-инверторов при воздействии отдельных ядерных частиц [Текст] / В. Я. Стенин // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 5. – С. 49-54.
- Стенин, В. Я. Базовые элементы памяти на основе ячеек DICE для сбоеустойчивых КМОП 28 нм ОЗУ [Текст] / В. Я. Стенин, П. В. Степанов // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 6. – С. 416-427.
- Тарараксин, А. С. Рациональный состав испытаний электронной компонентной базы на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц [Текст] / А. С. Тарараксин, А. В. Яненко, А. И. Чумаков // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 5. – С. 78-84.
- Чумаков, А. И. Особенности энерговыделения в микрообьемах элементов СБИС при воздействии нейтронного излучения [Текст] / А. И. Чумаков, А. В. Афонин, В. А. Полунин // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 5. – С. 5-10.
|