Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Катунин, Ю. В.
    Помехоустойчивость двухфазной КМОП 28 нм комбинационной логики к переходным эффектам воздействия одиночных ядерных частиц [Текст] / Ю. В. Катунин, В. Я. Стенин
    // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 4. – С. 290-298.

   Помехоустойчивость двухфазной 28 нм КМОП-комбинационной логики (на примере двухфазного инвертора) к воздействию одиночных ядерных частиц существенно выше, если конструктивная емкость между выходами двухфахного инвертора меньше порогового значения.

  УДК 621.382+621.396.6


            


Є складовою частиною документа Микроэлектроника [Текст] / РАН. – 2015. – Т. 44, № 4.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'