Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
ефект радіаційний, эффект радиационный
Документи:
- Наукометричний аналіз кваліфікаційних робіт з радіобіології. Ч. 1: аналіз докторських дисертацій [Текст] / Н. Артамонова, Г. Обвінцева, Ю. Павліченко, О. Масіч // Український радіологічний журнал. – 2007. – 15, № 1. – 85-90.
- Вавилов, В. С. Радиационные эффекты в полупроводниках и полупроводниковых приборах [Текст] / В. С. Вавилов, Н. А. Ухин. – Москва : Атомиздат, 1969. – 312 с. – 1,86 р.
- Влияние радиационно-индуцированных эффектов на радиационную стойкость кремниевых МОП-структур [Текст] / Э. М. Гаджиев, Я. Ю. Гусейнов, Н. М. Исмайлов, Ф. Д. Касимов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2001. – № 2. – С. 28-30.
- Корреляция ионизационной реакции в чувствительных точках и параметров чувствительности к воздействию тяжелых заряженных частиц при лазерном тестировании интегральных схем [Текст] / А. В. Гордиенко, О. Б. Маврицкий, А. Н. Егоров [и др.] // Квантовая электроника. – 2014. – Т. 44, № 12. – С. 1173-1178.
- Моделирование эффектов воздействия отдельных заряженных частиц космического пространства на изделия микроэлектроники и твердотельной СВЧ-электроники с использованием пикосекундного лазера [Текст] / А. Н. Егоров, В. А. Телец, А. И. Чумаков [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 5. – С. 60-66.
- Елесин, В. В. Расчетно-экспериментальное моделирование эффектов мощности дозы в СВЧ МИС на основе гетероструктурных полевых транзисторов [Текст] / В. В. Елесин // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 133-141.
- Технические средства проведения лазерных испытаний полупроводниковых элементов на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц [Текст] / О. Б. Маврицкий, А. И. Чумаков, А. Н. Егоров [и др.] // Приборы и техника эксперимента. – 2016. – № 5. – С. 5-29.
- Наблюдение сдвига резонансных пиков брэгговских решеток в волокнах из чистого кварцевого стекла в сторону коротких длин волн под действием гамма-излучения [Текст] / А. В. Фаустов, А. И. Гусаров, П. Мегре [и др.] // Квантовая электроника. – 2016. – Т. 46, № 2. – С. 150-154.
- Чумаков, А. И. Оценка чувствительности интегральных схем к одиночным радиационным эффектам для точечной области собирания заряда [Текст] / А. И. Чумаков // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 1. – С. 34-40.
- Ионизационная реакция в полупроводниковых структурах при облучении рентгеновским излучением фемтосекундного лазерно-плазменного источника [Текст] / А. И. Чумаков, М. П. Белова, Л. Н. Кессаринский [и др.] // Квантовая электроника. – 2017. – Т. 47, № 6. – С. 528-532.
|
