Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Чумаков, А. И.
    Оценка чувствительности интегральных схем к одиночным радиационным эффектам для точечной области собирания заряда [Текст] / А. И. Чумаков
    // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 1. – С. 34-40.

   Предложен подход к оценке параметров чувствительности - сечений одиночных радиационных эффектов в функции линейных потерь при использовании модели собирания заряда точечной чувствительной областью. Предложен подход по оценке чувствительности интегральных схем к эффектам многократных одиночных сбоев.

  УДК 621.382


            


Є складовою частиною документа Микроэлектроника [Текст] / РАН. – 2015. – Т. 44, № 1.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'