Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
Класифікатори
О
опроміненість, облученность
Документи:
Агеев, О. А.
Влияние конструкции реакционной камеры на облученность полупроводниковых пластин при быстрой термической обработке [Текст] / О. А. Агеев, А. М. Светличный, А. Н. Кочеров // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2001. – № 1. – 23-28.
Метод визначення просторової фотосинтезної опроміненості [Текст] / Л. С. Червінський, С. М. Усенко, Т. С. Книжка, Я. М. Луцак // Технічна електродинаміка. – 2016. – № 5. – С. 88-90.
ГОСТ 28976-91 (МЭК 891-87) Фотоэлектрические приборы из кристаллического кремния [Текст] : Методика коррекции по температуре и облученности результатов измерения вольт-амперной характеристики.
Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'
