Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
Класифікатори
С
сбои многократные
Документи:
Методика регистрации многократных сбоев в микросхемах памяти большой емкости при воздействии отдельных ядерных частиц [Текст] / А. Б. Боруздина, А. В. Уланова, А. И. Чумаков, А. В. Яненко // Микроэлектроника. – 2016. – Т. 45, № 4. – С. 313-318.
Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'
