• Класифікатори
• С

структура многослойная

Документи:

• Алгоритм определения амплитуд отраженных и проходящих волн при падении встречных волн на многослойную ступенчато-неоднородную структуру [Текст] / И. В. Антонец, Л. Н. Котов, В. Г. Шавров, В. И. Щеглов // Радиотехника и электроника. – 2012. – Т. 57, № 1. – С. 67-79.
• Алгоритм определения амплитуд внешних и внутренних волн при падении встречных волн на многослойную структуру со ступенчатой неоднородностью [Текст] / И. В. Антонец, Л. Н. Котов, В. Г. Шавров, В. И. Щеглов // Радиотехника и электроника. – 2013. – Т. 58, № 1. – С. 16-27.
• Анализ многослойных тонкопленочных структур методом электронной оже-спектроскопии в условиях перекрывания оже-пиков элементов [Текст] / В. Г. Бешенков, А. Ф. Вяткин, В. В. Амеличев, Д. В. Костюк // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 4. – С. 89-92.
• Автоматизация технологического оборудования для получения многослойных структур в сверхвысоком вакууме [Текст] / С. Н. Варнаков, А. А. Лепешев, С. Г. Овчинников [et al.] // Приборы и техника эксперимента. – 2004. – № 6. – 125-129.
• Методология формирования многослойных структур жидкометаллического бланкета термоядерного реактора [Текст] / И. В. Витковский, А. Н. Конев, С. А. Леонов [и др.] // Приборы и техника эксперимента. – 2012. – № 4. – С. 89-93.
• Апериодические многослойные структуры в оптике мягкого ренгеновского излучения [Текст] / Е. А. Вишняков, Ф. Ф. Каменец, В. В. Кондратенко [и др.] // Квантовая электроника. – 2012. – Т. 42, № 2. – С. 141-152.
• Оптический мониторинг температуры подложки и скорости травления многослойных структур при плазмохимическом травлении [Текст] / П. В. Волков, А. В. Горюнов, А. Ю. Лукьянов [и др.] // Микроэлектроника. – 2011. – Т. 40, № 5. – С. 331-338.
• Влияние толщины и числа слоев на оптичнеские и электрофизические свойства периодической структуры на основе Cu/ZnO:Ga [Текст] / Д. Г. Громов, А. С. Шулятьев, Е. Н. Редичев, А. Т. Берестов // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2011. – № 4. – С. 9-13.
• Давидович, М. В. Плазмоны в многослойных плоскослоистых структурах [Текст] / М. В. Давидович // Квантовая электроника. – 2017. – Т. 47, № 6. – С. 567-579.
• Донец, И. В. Исследование многослойных, периодических, многополосковых и многощелевых волноведущих структур [Текст] / И. В. Донец // Радиотехника и электроника. – 2012. – Т. 57, № 8. – С. 845-849.
• Микроструктура и свойства многослойных материалов на основе сплава Ti–6Al–4V, полученных по порошковой технологии [Текст] / О. М. Ивасишин, П. Е. Марковский, Д. Г. Саввакин [и др.] // Современная электрометаллургия. – 2018. – № 3. – С. 52-57.
• Влияние предварительного преобразования экспериментальных данных на точность результатов обработки рентгеновских рефлектограмм [Текст] / Д. А. Карташов, Н. А. Медетов, Д. И. Смирнов, Р. С. Орлов // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2011. – № 3. – С. 82-88.
• Влияние упорядочения квантовых точек в многослойных периодических структурах на характер брэгговской дифракции [Текст] / В. П. Кладько, В. Ф. Мачулин, В. Б. Молодкин [et al.] // Металлофизика и новейшие технологии. – 2004. – 26, № 10. – 1255-1265.
• Свободновисящие пленочные структуры для лазерно-плазменных экспериментов [Текст] / Е. Б. Клюенков, А. Я. лопатин, В. И. Лучин [и др.] // Квантовая электроника. – 2013. – Т. 43, № 4. – С. 388-391.
• Пащенко, А. Г. Энергетические состояния частиц в многослойных периодических наноструктурах [Текст] / А. Г. Пащенко // Радиотехника. – 2004. – № 136. – 127-132.
• Пен, Е. Ф. Свойства многослойных неоднородных голографических структур [Текст] / Е. Ф. Пен, М. Ю. Родионов // Квантовая электроника. – 2010. – Т. 40, № 10. – С. 919-924.
• Слабый, К. Г. Флеш-память на основе квантовых точек [Текст] / К. Г. Слабый, А. Г. Пащенко // Радиотехника. – 2016. – № 185. – С. 37-44.
• Смирнов, Д. И. Применение двухволновой рентгенооптической схемы совместных измерений зеркального отражения и диффузного рассеяния рентгеновского излучения для исследования многослойных тонкопленочных структур [Текст] / Д. И. Смирнов, Н. Н. Герасименко, В. В. Овчинников // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2016. – Т. 21, № 1. – С. 75-81.
• Тарасов, М. А. Тонкие многослойные алюминиевые структуры для сверхпроводниковых устройств [Текст] / М. А. Тарасов, Л. С. Кузьмин, Н. С. Каурова // Приборы и техника эксперимента. – 2009. – № 6. – С. 122-126.
• Хуболов, Б. М. К вопросу о влиянии внутренних электрических полей на электрохромный процесс в многослойный наноразмерных структурах [Текст] / Б. М. Хуболов, В. П. Подлинов // Нанотехнологии: наука и производство. – 2011. – № 5. – С. 28-33.