Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
байесова оценка
Документи:
- Акгюль, Ф. Г. Классические и байесовские оценки результатов частично ускоренных ресурсных испытаний со ступенчатым изменением напряжений для обратного распределения Вейбулла с цензурированием I типа (на англ. яз.) [Текст] / Ф. Г. Акгюль, К. Ю, Б. Сеноглу // Проблеми міцності. – 2020. – № 3. – С. 169-187.
- Голодников, А. Н. Поиск верхней границы байесовских оценок параметра в экспоненциальной модели отказов при известных двух квантилях априорной функции распределения [Текст] / А. Н. Голодников // Кибернетика и системный анализ. – 2007. – № 1. – 90-102.
- Голодников, А. Н. Оценивание параметров надежности в условиях недостаточной информации [Текст] / А. Н. Голодников, Ю. М. Ермольев, П. С. Кнопов // Кибернетика и системный анализ. – 2010. – Т. 46, № 3. – С. 109-125.
- Исмаил, Али А. Байесова оценка модели частично ускоренных ресурсных испытаний при постоянном напряжении с цензурированными данными II типа (на англ. яз.) [Текст] / Али А. Исмаил, М. М. Аль-Харби // Проблеми міцності. – 2020. – № 2. – С. 148-159.
- Исмаил, Али А. Байесовы оценки модели частично ускоренных ресурсных испытаний при постоянном напряжении с цензурированными данными типа I для случая линейного распределения частоты отказов (на англ. яз.) [Текст] / Али А. Исмаил, М. М. Аль-Харби // Проблеми міцності. – 2020. – № 1. – С. 192-202.
- Трифонов, А. П. Предельная точность сверхширокополосной оценки скорости [Текст] / А. П. Трифонов, М. Б. Беспалова, А. В. Кузнецов // Изв.ВУЗов.Радиоэлектроника. – 2005. – № 3. – С. 3-15.
- Трифонов, А. П. Предельная точность сверхширокополосной оценки дальности [Текст] / А. П. Трифонов, М. Б. Беспалова, А. В. Кузнецов // Изв.ВУЗов.Радиоэлектроника. – 2004. – № 6. – С. 3-14.
- Шкварко, Ю. В. Совмещение подходов дескриптивной регуляризации и непараметрического байесовского спектрального оценивания для улучшенного формирования радиолокационных изображений [Текст] / Ю. В. Шкварко // Известия вузов. Радиоэлектроника. – 2010. – Т. 53, № 4. – С. 37-43.
|
