| |
Павлюк, С. П.
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов [Текст] / С. П. Павлюк, Л. В. Ищук, В. М. Кислицын
// Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2004. – № 3. – 62-64.
Обоснована возможность использования инфракрасного излучения полупроводников для экспресс-диагностики качества полупроводниковых диодных кристалов |
