Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Выявление скрытых дефектов в МДП-элементах интегральных схем воздействием импульсного магнитного поля [Текст] / М. Н. Левин, А. В. Татаринцев, В. Р. Гитлин, О. А. Косцова
    // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2004. – № 2. – 29-33.

   Представлен способ обнаружения скрытых (латентных) технологических дефектов в кремниевых пластинах и МДП-элементах интегральных схем

  УДК 621.315.5


            




Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'