| |
Оптичний метод кількісного безеталонного елементного аналізу поверхні іонними пучками [Текст] / В. Г. Дробнич, С. В. Охріменко, С. С. Поп [et al.]
// Український фізичний журнал. – 2003. – 48, № 2. – 186-191.
Розглянуто фізичні основи запропонованого оптичного методу кількісного безеталонного елементного аналізу поверхні твердих тіл іонними пучками |
