| |
Прибор для диагностики устройств микро- и наносистемной техники на основе однофотонного пикосекундного детектора ИК-излучения [Текст] / Г. Н. Гольцман, О. В. Окунев, Г. М. Чулкова [et al.]
// Изв.ВУЗов.Электроника. – 2003. – № 1. – 42-48.
Описан прибор для диагностики архитектуры интегральных микросхем при разработке, а также для контроля качества работы их отдельных узлов в процессе производства |
