| |
Определение параметров глубоких центров, локализованных в микроплазменных каналах кремниевых лавинных диодов [Текст] / С. В. Булярский, Ю. Н. Сережкин, В. К. Ионычев, В. В. Кузьмин
// Изв.ВУЗов.Электроника. – 2002. – № 2. – 54-59.
Проведено исследование статистической задержки микроплазменного пробоя в кремниевых лавинных диодах автомобильной электроники |
